Effect of the residual stress on the morphotropic phase boundary shift in lead zirconate titanate thin film on a Si wafer
- 発表者名
- T. Ohno, H. Yanagida, N. Sakamoto, N. Wakiya, H. Suzuki, S. Satoh, K. Wagatsuma and T. Matsuda
- 学会種類
- 国際学会
- 学会名
- Materials Science & Technology 2013
- 開催都市
- Montreal, Canada
- 開催年月日
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2013年10月27日 〜 2013年10月31日
- 講演種類
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一般講演