研究論文

2014年5月7日

Preparation of lanthanum strontium cobalt oxide electrode on a Si wafer for stress engineering of ferroelectric thin films

J. Ceram. Soc. Jpn. 2014
122 63-66
T. Ohno, H. Yanagida, H. Suzuki and T. Matsuda

研究論文

2014年3月7日

TEM study for self oriented LaNiO₃ film along [100]

Key Eng. Mater. 2014
582 185-188
N. Sakamoto, K. Ozawa, K. Murakoshi, T. Ohno, T. Kiguchi, T. Matsuda, T. Konno, N. Wakiya and H. Suzuki

研究論文

2013年9月7日

Effects of Oxide Seeding Layers on Electrical Properties of Chemical Solution Deposition-Derived Pb(Mg_1/3Nb_2/3)O₃-PbTiO₃ Relaxor Thin Films

Jpn. J. Appl. Phys. 2013
52 09KA07
T. Arai, Y. Goto, H. Yanagida, N. Sakamoto, T. Ohno, T, Matsuda, N. Wakiya and H. Suzuki

研究論文

2013年6月7日

Preparation of barium titanate hollow particle by two-step chemical solution deposition

J. Ceram. Soc. Jpn. 2013
121 80-83
T. Ohno, T. Sugiura, S. Watanabe, H. Suzuki and T. Matsuda

研究論文

2013年4月7日

Stress state analysis of stress engineered BaTiO₃ thin film by LaNiO₃ bottom electrode

J. Ceram. Soc. Jpn. 2013
121 273-277
K, Murakoshi, K. Fukamachi, N. Sakamoto, T. Ohno, T. Kiguchi, T. Matsuda, T. Konno, N. Wakiya and H. Suzuki

研究論文

2013年1月7日

Micro/Crystal structure analysis of CSD derived porous LaNiO₃ electrode films

J. Ceram. Soc. Jpn. 2013
121 619-622
N. Sakamoto, K. Ozawa, T. Ohno, T. Kiguchi, T. Matsuda, T. Konno, N. Wakiya and H. Suzuki

研究論文

2012年9月13日

Strain-Induced Electrical Properties of Lead Zirconate Titanate Thin Films on a Si wafer with Controlled Oxide Electrode Structure

Jpn. J. Appl. Phys. 2012
51 09LA13
T. Ohno, M. Ishiduka, T. Arai, H. Yanagida, T. Matsuda, N. Sakamoto, N. Wakiya and H. Suzuki

研究論文

2012年9月7日

Preparation of the BTO-SiO₂ hybrid particles for the catalyst of methane steam reforming process

Mater. Chem. Phys. 2012
134 514-517
T. Ohno, K. Numakura, H. Suzuki and T. Matsuda

研究論文

2012年7月7日

Low temperature processing of alkoxide derived PMN thin films

Mater. Sci. Eng. 2012
30 012002
T. Ohno, Y. Gotoh, N. Sakamoto, N. Wakiya, T. Kiguchi, T. Matsuda and H, Suzuki

研究論文

2012年5月7日

TEM Microstructure Analysis for Compressively Stressed PZT Thin Film by CSD Derived LaNiO₃ Bottom Electrodes

Functional Mater. Lett. 2012
5(2) 1260016
K. Ozawa, M. Ishizuka, N. Sakamoto T. Ohno, T. Kiguchi, T. Matsuda T. Konno, N. Wakiya and H. Suzuki