研究論文

2010年2月7日

Effect of the electrode structure on the electrical properties of alkoxide derived ferroelectric thin film

Mater Lett. 2010
64 1742-1744
T. Ohno, T. Matsuda, T. Nukina, N. Sakamoto, N. Wakiya, S. Tokuda and H. Suzuki

研究論文

2010年1月7日

化学溶液法で作製されたカルシウムアルミネート微粒子の粉砕効果

粉体工学会誌 2010
47, pp.304-309
坂元尚紀、渡邉翔太、堀雅仁、大野智也、符徳勝、脇谷尚樹、松田剛、鈴木久男

研究論文

2009年12月11日

Stress engineering of the alkoxide derived ferroelectric thin film on Si wafer

J. Ceram Soc. Jpn. 2009
117, pp.108-1094
T. Ohno, B. Malic, H. Fukazawa, N. Wakiya, H. Suzuki, T. Matsuda and M. Kosec

研究論文

2009年12月7日

Control of the quantum size effect of TiO₂-SiO₂ hybrid particles

Mater. Lett. 2009
63 pp.1737-1739
T. Ohno, K. Numakura, H. Itoh, H. Suzuki and T. Matsuda

研究論文

2009年11月7日

Effects of the amount of MoO₃ on the catalytic properties of H₂-reduced Pt/MoO₃-SiO₂ for heptane isomerization

Appl. Catal. A: General 2009
362 pp.40-46
T. Matsuda, T. Ohno, Y. Hiramatasu, Z. Li, H. Sakagami and N. Takahashi

研究論文

2009年10月10日

Effect of Back-Etching on Electrical Properties of (111) – oriented PZT Thin Films

Trans. Mater. Res. Soc. Jpn. 34 2009
pp.113-116
T. Ohno, B. Malic, M.Kosec, N. Wakiya, H. Suzuki and T. Matsuda

研究論文

2009年8月7日

Size effect of TiO₂-SiO₂ nano-hybrid particle

Mater. Chem. Phys. 2009
113, pp.119-123
T. Ohno, S. Tagawa, H. Suzuki and T. Matsuda

研究論文

2008年9月7日

Origin of Compressive Residual Stress in Alkoxide derived PTO thin film on Si wafer

Jpn. J. Appl. Phys. 2008
47, pp.7514-7518
T. Ohno, B. Malic, H. Fukazawa, N. Wakiya, H. Suzuki, T. Matsuda and M. Kosec

研究論文

2008年1月7日

Effect of Back-Etching on Electrical Properties of (001)&(100) Oriented PZT(30/70) Thin Films

Ferroelectrics 2008
370, pp.119-125
T. Ohno, B. Malic, T. Matsuda , N. Wakiya, H. Suzuki and M.Kosec

研究論文

2007年9月7日

Effect of Film Thickness on Electrical Properties of Chemical Solution Depostion Derived PZT/LNO/Si

Jpn. J. Appl. Phys. 2007
46, pp.6925-6928
Y. Sakamaki, M. Fukazawa, N. Wakiya, H. Suzuki, K. Shinozaki, T. Ohno, and M. Kosec